工業(yè)高低溫循環(huán)沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備主要用于 對(duì)電工 、電子器件 及其 他產(chǎn)品 、零配件 及原材料 進(jìn)行 高低溫試驗(yàn) 溫度 冷熱 沖擊試驗(yàn) 的高低溫箱 專用設(shè)備 ,可滿足電子電工 產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) -高溫 試驗(yàn) /低溫試驗(yàn) /溫度變化試驗(yàn) /高低溫試驗(yàn) 沖擊試驗(yàn) /溫度 沖擊試驗(yàn) /冷熱沖擊試驗(yàn) 。

工業(yè)高低溫循環(huán)沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2、GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3、GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)4、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)5、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)6、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)7、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)8、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)9、GJB1

(分別是寬×高×深) (mm)

LQ-TS-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440。

LQ-TS-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440。

LQ-TS-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440。

LQ-TS-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540。

LQ-TS-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640。

LQ-TS-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150。